硫化銅鉬礦作為常見的硫化銅礦之一，有用成分除銅物外，還含有輝鉬礦。硫化銅礦及其精礦質(zhì)量高低直接影響銅產(chǎn)品的技術(shù)經(jīng)濟指標(biāo)，因此針對其選礦流程樣品中銅、鉬、鐵、硫、硅、鈣等主成分的分析往往需要若干傳統(tǒng)方法的組合，其操作流程繁瑣冗長。

利用X射線熒光光譜(XRF)法線性范圍寬、精密度高、分析速度快的特點則可有效解決這一難題。

本文介紹使用波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+分析硫化銅鉬礦的主要成分。

儀器：

波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+

試劑：

四硼酸鋰與偏硼酸鋰混合熔劑

脫模劑（LiBr）分析純

氧化劑（LiNO₃）分析純

取0.4g樣品，1.0g混合熔劑，2.0g氧化劑混合均勻后，再均勻覆蓋5.0g混合熔劑，在熔樣機中以650℃預(yù)氧化后升溫至1050℃熔融，加入適量脫模劑后制成玻璃樣片，于熒光光譜儀上進行測定。

將銅礦石、鉬礦石國家標(biāo)準物質(zhì)精礦樣品與原礦樣品以不同比例混合，以配制具有一定含量梯度的校準樣品序列，各成分含量范圍如下：

標(biāo)準樣品及人工配置校準樣品中

各成分含量范圍

根據(jù)公式：

S為靈敏度（kcps/%），r_b為背景計數(shù)率（kcps），t_b為背景測定時間（s），可得方法檢出限。

按上述實驗步驟熔融GBWO7144和 GBW07266等比例混合的樣品并進行測定( n=10)，統(tǒng)計測量結(jié)果，計算各成分的相對標(biāo)準偏差如下：

采用波長色散X射線熒光光譜儀ZSX PrimusIII+，建立了涵蓋硫化銅鉬礦石選礦流程樣品中主成分分布的熔融制樣——XRF分析方法。

Cu、Mo、Fe、S、SiO₂ 精密度小于1.0 %，檢出限滿足日常分析要求。